宇航志達芯片半導體測試高低溫沖擊試驗箱構(gòu)造美觀,高效安全,用途廣泛高低溫試驗箱是航空,汽車,家電,科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備,用于測試和確定電工,電子及其他產(chǎn)品及材料進行高溫,低溫,或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

宇航志達芯片半導體測試高低溫沖擊試驗箱
技術(shù)參數(shù):
1、型號:Y-HU-150G
2、內(nèi)箱尺寸:寬400×高500×深400mm
3、外形尺寸:寬650×高1550×深1010mm
4、溫度范圍:低溫-70℃~高溫150℃
5、濕度范圍:標準型(20%~98%RH)
6、溫度解析度:0.01℃
7、溫度波動度:≤±0.5℃
8、濕度波動度:≤±2.0%RH
9、溫度均勻度:±2.0℃
10、濕度偏差:75%R.H以下±5.0%RH、75%R.H以上+2.0/-3.0%RH
11、升溫速率:約1.0℃~3.0℃/min
12、降溫速率:約0.8℃~1.3℃/min
13、電源要求:AC220V/50H